Кремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/Кремниевая



Сохраните в закладки:

Цена:4103.75RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Materials Research Specialist Store

Advanced Materials Research Specialist Store

Магазина Advanced Materials Research Specialist Store работает с 18.11.2015. его рейтинг составлет 85.71 баллов из 100. В избранное добавили 360 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.7 в продаже представленно 2266 наименований товаров, успешно доставлено 86 заказов. 7 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

Кремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/Кремниевая

История изменения цены

*Текущая стоимость 4103.75 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Feb-28-2026 5211.36 руб. 5315.2 руб. 5263 руб.
Jan-28-2026 4226.80 руб. 4311.65 руб. 4268.5 руб.
Dec-28-2025 5129.48 руб. 5232.82 руб. 5180.5 руб.
Nov-28-2025 5088.51 руб. 5190.69 руб. 5139 руб.
Oct-28-2025 4062.83 руб. 4143.61 руб. 4102.5 руб.
Sep-28-2025 5006.77 руб. 5106.26 руб. 5056 руб.
Aug-28-2025 4965.49 руб. 5064.60 руб. 5014.5 руб.
Jul-28-2025 4924.53 руб. 5022.8 руб. 4973 руб.

Описание товара

Кремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/КремниеваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/КремниеваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/КремниеваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/КремниеваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/КремниеваяКремниевая монокристаллическая Силиконовая подложка 20 мм * мм/Кремниевая


 Технические характеристики:   

1. Материал:Кремния высокой чистоты

2. Длина: 20 мм

3. Ширина: 20 мм

4. Толщина:650um,725um

5. Удельное сопротивление: 0,001-50/10,5 ∙см

6. Ориентация: <100>

7. Полировка: односторонняя полировка

8. Плоскость: <1 микрометр

9. Основное применение: Для Процесса переноса образцов синхротронного излучения, PVD/CVD покрытия подложки, магнетронного распыления, XRD, SEM, роста атомных сил образца, инфракрасной спектроскопии, флуоресцентной спектроскопии анализа испытательной подложки, субстрата, субстрата, молекулярный пучок эпитаксиального роста полупроводникового кристального рентгеновского анализа.   

 

   1456237


Смотрите так же другие товары: